IEC 60747-14-1-2000 半导体器件第14-1部分:半导体元件总则和分类
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 02:20:46 浏览:8421
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【英文标准名称】:Semiconductordevices-Part14-1:Semiconductorsensors;Generalandclassification
【原文标准名称】:半导体器件第14-1部分:半导体元件总则和分类
【标准号】:IEC60747-14-1-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;测量;搬运;半导体;标记;元部件;布置;定义;分立器件;基准方法;集成电路;标志;图形符号;规范(验收);试验;半导体器件;额定值;半导体传感器;测量技术;连接;可靠度;色码;电气工程;符号;电子工程;寿命;检验;极限(数学);作标记;警告符号
【英文主题词】:
【摘要】:本标准描述了有关传感器规范的基本条款,这些条款适用于由半导体材料制造的传感器,也适应于由其他材料(例如绝缘或铁电材料)所制造的传感器。
【中国标准分类号】:L15
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:8P;A4
【正文语种】:汉语
【原文标准名称】:半导体器件第14-1部分:半导体元件总则和分类
【标准号】:IEC60747-14-1-2000
【标准状态】:现行
【国别】:国际
【发布日期】:2000-10
【实施或试行日期】:
【发布单位】:国际电工委员会(IEC)
【起草单位】:IEC/SC47E
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子设备及元件;测量;搬运;半导体;标记;元部件;布置;定义;分立器件;基准方法;集成电路;标志;图形符号;规范(验收);试验;半导体器件;额定值;半导体传感器;测量技术;连接;可靠度;色码;电气工程;符号;电子工程;寿命;检验;极限(数学);作标记;警告符号
【英文主题词】:
【摘要】:本标准描述了有关传感器规范的基本条款,这些条款适用于由半导体材料制造的传感器,也适应于由其他材料(例如绝缘或铁电材料)所制造的传感器。
【中国标准分类号】:L15
【国际标准分类号】:31_080_99
【页数】:8P;A4
【正文语种】:汉语
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